10月20日，UL在臺(tái)灣建設(shè)的印刷電路板性能測(cè)試服務(wù)實(shí)驗(yàn)室正式成立，這為臺(tái)灣印刷電路板上下游提供更完整的產(chǎn)品規(guī)范測(cè)試及檢測(cè)服務(wù)。

為配合產(chǎn)業(yè)發(fā)展，UL認(rèn)為臺(tái)灣是印刷電路板制造業(yè)的重鎮(zhèn)，選擇在臺(tái)灣發(fā)展最新印刷電路板性能測(cè)試服務(wù)實(shí)驗(yàn)室，主要提供三項(xiàng)可靠度與性能測(cè)試服務(wù)，包括CAF(陽(yáng)極玻纖紗電化學(xué)遷移成長(zhǎng))及IST (互連應(yīng)力試驗(yàn))兩項(xiàng)可靠度試驗(yàn)，針對(duì)訊號(hào)完整性SET2DIL(單端阻抗訊號(hào)損失試驗(yàn))性能測(cè)試。

CAF是針對(duì)電路板在長(zhǎng)期使用下的絕緣可靠度試驗(yàn)，向來(lái)是須有高可靠度要求的終端產(chǎn)品客戶，如伺服器、汽車電子及醫(yī)療電子產(chǎn)業(yè)，對(duì)印刷電路板及其材料能力的重點(diǎn)評(píng)估項(xiàng)目。UL臺(tái)灣的CAF試驗(yàn)偏壓最高可提供到1000VDC，可滿足絕大部份制造商的測(cè)試需求。

IST提供一個(gè)快速檢驗(yàn)電路板導(dǎo)通性能長(zhǎng)期可靠度試驗(yàn)方法，此方法可以縮短傳統(tǒng)溫度循環(huán)測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)的問(wèn)題(在相同的檢測(cè)次數(shù)下, 可縮短12倍的時(shí)間)。透過(guò)專用測(cè)試板及客制化的測(cè)試板設(shè)計(jì)，可快速提供電路板對(duì)導(dǎo)通性能的檢測(cè)，以利客戶認(rèn)證與制程改善檢驗(yàn)。SET2DIL/Delta-L是Intel主導(dǎo)的測(cè)試方法，是針對(duì)訊號(hào)完整性要求高的電路板，進(jìn)行高頻訊號(hào)性能測(cè)試。主要是針對(duì)PWB制程與材料評(píng)估的重要測(cè)試。

UL電子科技產(chǎn)業(yè)大中華區(qū)工程部總監(jiān)蔡英哲指出，「現(xiàn)今電路板設(shè)計(jì)追求高品質(zhì)、高密度、高速應(yīng)用，UL是唯一可涵蓋物性、化性及電性的全方位實(shí)驗(yàn)室；加上我們提供測(cè)試前諮詢與設(shè)計(jì)輔導(dǎo)，以及測(cè)試后的失效分析找出關(guān)鍵問(wèn)題根源，有助制造商優(yōu)化產(chǎn)品，在競(jìng)爭(zhēng)市場(chǎng)中成為焦點(diǎn)。

蔡英哲進(jìn)一步表示，「UL臺(tái)灣印刷電路板性能實(shí)驗(yàn)室的成立象征進(jìn)一步提升電路板產(chǎn)業(yè)的整體競(jìng)爭(zhēng)力，將各種資源做到最充分的整合及發(fā)揮，讓臺(tái)灣電路板產(chǎn)業(yè)可以在地完成國(guó)際認(rèn)同的檢驗(yàn)測(cè)試。未來(lái)我們也會(huì)持續(xù)關(guān)注市場(chǎng)發(fā)展，逐步擴(kuò)充其他印刷電路板性能測(cè)試項(xiàng)目。

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